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球差校正透射電子顯微鏡(ACTEM)檢測
球差校正透射電子顯微鏡(ACTEM)檢測
  • 球差校正透射電子顯微鏡(ACTEM)檢測

球差校正透射電子顯微鏡(ACTEM)檢測

產品報價:300元

更新時間:2023/7/23 18:36:25

地:安徽

牌:科研測試站

號:球差校正透射電子顯微鏡(ACTEM)

廠商性質:

公司名稱: 合肥佰艾巨測科學技術有限責任公司

產品關鍵詞: 三維立體   球差校正透射   透射電鏡   測試  

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李博信 : (17364312735) (021-54832788)

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一、球差校正透射電子顯微鏡(ACTEM)檢測介紹

球差校正透射電子顯微鏡是一種分辨率高于透射電鏡的電鏡測試儀器,用于生物學、化學、物理學、農學等領域。對各種材料內部微結構進行二維顯微形貌觀察,包括常見的粉末、納米顆粒形貌和粒徑觀察;配合三維重構可以得到三維立體形貌;利用選區電子衍射、高分辨透射圖像、高分辨掃描透射圖像等分析材料的結構;配合能譜儀可以對樣品元素做點、線、面、體分布分析,可以得到原子分辨率的元素面分布圖像。

二、球差校正透射電子顯微鏡(ACTEM)檢測原理

分析原理:球差是像差的一種,是影響TEM分辨率的主要原因之一。由于像差(球差、像散、彗形像差和色差)的存在,無論是光學透鏡還是電磁透鏡,其透鏡系統都無法做到無差別。光學透鏡中,可通過將凸透鏡和凹透鏡組合使用來減少由凸透鏡邊緣匯聚能力強中心匯聚能力弱所致的所有的光線(電子)無法會聚到一個焦點的缺點,可對于電磁透鏡,我們沒有凹透鏡,球差便成了影響TEM分辨率主要也難解決的問題。用球差校正裝置扮演凹透鏡修正球差的透射電鏡即為球差透射電鏡,消除了一些透射系統中存在的球面像差,將透射電鏡的分辨率提高到了亞埃極(0.06nm)。

三、球差校正透射電子顯微鏡(ACTEM)檢測可做項目

可做項目:TEM,STEM,EDS,Mapping,SAED,EELS。

四、球差校正透射電子顯微鏡檢測要求

制樣用微柵或者超薄碳膜;所有的樣品拍攝之前需要用高分辨TEM預觀察,確保樣品制備成功;含磁性元素樣品,必須提供粉末或者原樣用于驗證磁性;

1、塊體用fib制樣,厚度30nm左右;粉末提供10mg左右;

2、納米顆?;蛘呒{米片建議用微柵或者超薄碳膜制樣;

五、球差校正透射電子顯微鏡常見問題 

1. 樣品為什么會積碳,積碳有什么影響?

答:樣品中有機物的影響,制備過程含有機物,或者樣品吸附空氣中污染物;積碳會影響STEM模式的拍攝效果,讓視野模糊不清。

2. 有什么方法可以改善積碳帶來的影響?是否一定有用?

答:等離子清洗制好樣的載網,但有洗壞樣品的風險,可以會導致負載顆粒脫落等風險;電子束輻照樣品一段時間,理論上會有改善,但是實際不一定會有明顯效果。

3. 我要拍的單原子,為什么整片區域都是很亮的,看不清單個的?

答:樣品太厚,或者負載量太大等。

4. 為什么拍不到原子分辨率的mapping和eels?

答:原子相要求樣品很薄,樣品薄的話能譜信號和eels號會比較弱,不利于收集信號。那就要求樣品很薄,很穩定,能長時間收集信號,且要求原子序數都比較大的。一般樣品很難同時符合這幾個要求。

5. 拍球差的樣品為什么要很???

答:薄的樣品可以減少電子在樣品中的彈射次數,分辨率就會比較高。

6. 樣品很厚是不是制樣沒超聲好?

答:球差一般是拍樣品邊緣幾個nm的區域,所以對于原子相樣品團聚不會影響到拍攝效果,但樣品本身很厚就會有影響,這個與超聲分散的效果沒有關系,與樣品本身的厚薄有關。

7、AC-TEM和AC-STEM這兩臺透射電鏡的區別是什么呢?

AC-TEM的球差校正器安裝在物鏡位置,而AC-STEM的球差校正器安裝在聚光鏡的位置。另外,雙球差校正TEM是一臺TEM上同時安裝兩個校正器,同時校正匯聚束和成像


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